Поддельная флеш-память становится все более серьезной проблемой; исследователи в Алабаме нашли алгоритм для прогнозирования того, насколько старый (и используемый) ядро ​​NAND. С помощью электронного анализа с проверкой, они могут узнать, является ли флеш-чип новым или переработанным, даже если этот чип был использован только на 5 процентов или меньше.
Этот метод настолько прост, что приложение можно запустить на самых старых смартфонах.